Röportaj : Gamze Ünal
Fotoğraflar : Taner Dalkılıç
KUYTAM ve ZEISS’tan Dev İş Birliği: Yeni Nesil Görüntüleme Teknolojileri Koç Üniversitesi’nde Mercek Altına Alındı!
Koç Üniversitesi Yüzey Teknolojileri Araştırma Merkezi (KUYTAM) ve ZEISS ortaklığında 6-7 Mayıs tarihlerinde düzenlenen “Microscopy Master Class’26”, elektron mikroskopi dünyasındaki en yeni inovasyonları ve GeminiSEM teknolojisinin sunduğu nano düzeydeki analiz çözümlerini akademi ve sektör profesyonelleriyle buluşturdu.
KUYTAM – ZEISS Microscopy Master Class’26:
Koç Üniversitesi’nde Yeni Nesil Görüntüleme Teknolojileri Buluşması
Koç Üniversitesi Yüzey Teknolojileri Araştırma Merkezi (KUYTAM) ve ZEISS iş birliğiyle düzenlenen Microscopy Master Class’26, 6–7 Mayıs 2026 tarihlerinde Koç Üniversitesi’nde gerçekleştirildi. “Unleash Next-Gen Imaging” vizyonuyla hayata geçirilen etkinlik, akademisyenleri ve sektör profesyonellerini elektron mikroskopi alanındaki en güncel yenilikler etrafında bir araya getirdi.
İki Günlük Yoğun Program
İlk gün (6 Mayıs), Founders’ Hall’da düzenlendi. Koç Üniversitesi’nden Prof. Dr. Uğur Ünal ve ZEISS’tan Christian Martin’in açılış konuşmalarıyla başlayan program; ultra-düşük kV’da yüksek çözünürlüklü SEM, Sweet Spot Imaging ve VR deneyimleri gibi ileri düzey konularda teorik sunumlarla devam etti.
İkinci gün (7 Mayıs) ise KUYTAM tesislerinde uygulamalı eğitimlere ayrıldı. Katılımcılar, ZEISS GeminiSEM 560 elektron mikroskobu üzerinde bizzat çalışarak teorik bilgilerini pratiğe dönüştürme fırsatı buldu.
Öne Çıkan Konular / Etkinlik boyunca aşağıdaki başlıklar yoğun ilgi gördü:
GeminiSEM ile nano düzeyde yüksek çözünürlüklü görüntüleme
İleri düzey EDS analizi ile malzeme karakterizasyonu
Oxford Instruments dedektörlerinin ZEISS sistemleriyle entegrasyonu ve araştırma verimliliğine katkısı
X-Ray mikroskopi ile numune iç yapısının analizi
Nano-yapısal karakterizasyon ve analitik çözümler
Türkiye’nin Araştırma Altyapısına Katkı
ZEISS Microscopy, etkinliğin ardından yaptığı açıklamada Koç Üniversitesi KUYTAM ekibine ve tüm katılımcılara teşekkür ederek Türkiye’nin araştırma altyapısına değer katmaya devam edeceklerini vurguladı. Gelecekteki etkinlikler ve etkinlik özetleri için Koç Üniversitesi Etkinlikler Portalı takip edilebilir.
Çalıştayın ardından, KUYTAM Direktörü Prof. Dr. Uğur Ünal ile ileri mikroskopi tekniklerinin kimya endüstrisindeki yeri ve önemi hakkında konuştuk. Prof. Ünal, ZEISS ile gerçekleştirdikleri yeni cihaz yatırımı ve iş birliğini değerlendirirken, yüzey çalışmalarında yüksek çözünürlüklü analizlerin katalizör geliştirme gibi pek çok kritik uygulama için vazgeçilmez olduğunu vurguladı.
Bügünkü çalıştaydan bahseder misiniz?
Bugün, Koç Üniversitesi Yüzey Teknoloji Araştırma Merkezi olarak ZEISS’ten yeni bir cihaz temin ettik. Merkezimizin karakterizasyon ve analiz kapasitesini artırmak amacıyla ZEISS’in en gelişmiş modellerinden birini bünyemize kattık. Yüksek çözünürlüklü ve güçlü analitik kapasitesiyle öne çıkan bu cihazın tanıtımı ve merkezimizin kamuoyuna duyurulması amacıyla ZEISS iş birliğiyle bir çalıştay düzenledik.
Kimya endüstrisi perspektifinden bakıldığında, ileri mikroskopi tekniklerinin önemi nedir?
Yürüttüğümüz katalitik ve yüzey çalışmalarında tüm reaksiyonlar yüzeyde gerçekleşmektedir. Bu nedenle yüzeyin kimyasal kompozisyonunu, kimyasal özelliklerini ve morfolojik yapısını doğru biçimde anlamamız büyük önem taşımaktadır. Söz konusu özellikler; katalitik reaksiyonlarda ve yüzeyle ilgili tüm süreçlerde malzemenin genel performansını doğrudan etkileyen temel faktörlerdir. Bu verilere ulaşabilmek için yüksek çözünürlüklü elektron mikroskoplarına ve analitik elektron mikroskopi sistemlerine ihtiyaç duyulmaktadır. Elde ettiğimiz bulgular doğrultusunda yüzey modifikasyonları gerçekleştirmekte ve uygulamaya yönelik katalizörlerin geliştirilmesine katkı sağlamaktayız.
Türkiye’de akademi-kimya endüstrisi arasındaki iş birliği hakkında nedüşünüyorsunuz?
Bu noktada, üniversiteler ile sanayi kuruluşlarının daha sıkı bir iş birliği içinde çalışması kritik bir önem kazanmaktadır. Türkiye’deki en temel eksikliklerden biri, sanayinin üniversiteyle kurduğu ilişkinin yeterince derinleşememesidir. Ortak projeler yürütülmekle birlikte, bu projelerin büyük çoğunluğu somut çıktılar üretmeden sonuçlanmaktadır. Sanayi-üniversite ilişkisinin yalnızca ürün odaklı değil, aynı zamanda teknoloji geliştirme ve bilgi üretme ekseninde de güçlendirilmesi gerekmektedir.
Sanayi, doğası gereği hızlı ve somut sonuçlara yönelme eğilimindedir. Oysa teknoloji geliştirmek, bilgiyi derinleştirmek ve özgün bilgi üretmek çoğu zaman çok daha stratejik bir değer taşımaktadır. Yürütülen yüzlerce projeden yalnızca bir ya da ikisi gerçek anlamda çığır açan bilgiye zemin hazırlayabilir. Sanayinin hız odaklı beklentileri, Türkiye’de bu alanda önemli bir kısıt oluşturmaktadır. Bu nedenle, ülkemizde sanayi-üniversite akademik iş birliklerinin çok daha ileri bir düzeye taşınması zorunluluk hâline gelmiştir.
Etkinliğimizi görüntüleyen Artkim Grup ve Chem Media’ya katkıları için teşekkür eder, ilginiz için minnettarlığımızı sunarız.
Microscopy Master Class’26 etkinliğinde gerçekleştirdiği sunumdan sonra, ZEISS Türkiye Genel Müdürü Christian Martin ile bir söyleşi gerçekleştirdik. Martin veri odaklı analiz ekosistemlerinin önemine dikkat çeken, entegre mikroskopi çözümlerinin üretim verimliliğini artırırken hata tespiti ve süreç optimizasyonunda önemli avantaj sağladığını belirtti.
Kimyasal üreticileri; ürün tutarlılığını, süreç güvenliğini ve inovasyon hızını artırma konusunda baskı altındalar. ZEISS GeminiSEM gibi gelişmiş elektron mikroskobu sistemlerinin; parçacık karakterizasyonu, kontaminasyon analizi ve hata incelemesi gibi alanlarda kimya şirketlerinin daha hızlı ve emin kararlar almasına nasıl yardımcı olduğunu görüyorsunuz?
ZEISS GeminiSEM 560, kimya şirketlerinin, birçok performans ve kalite sorununun kaynağı olan mikro ve nano ölçekteki malzemeleri hızla anlamalarına yardımcı olur. Parçacık karakterizasyonu için parçacık boyutu, morfolojisi, gözenekliliği ve aglomerasyon (topaklanma) davranışı hakkında son derece ayrıntılı bilgiler sunar. Kontaminasyon ve hata analizinde, EDS gibi entegre analitik araçlar; yabancı parçacıkların, inklüzyonların veya süreçle ilgili kusurların hızlı bir şekilde tanımlanmasını sağlar. Ultra düşük kV görüntüleme yeteneği, hassas veya iletken olmayan malzemeler için özellikle değerlidir çünkü minimum yüklenme ve numune hasarı ile gerçek yüzey görüntülemeyi mümkün kılar. Genel olarak sistem, kök neden analizini hızlandırmaya, süreç tutarlılığını artırmaya ve daha hızlı, daha güvenli karar verme süreçlerini desteklemeye yardımcı olur.
Avrupa, Çin, Kuzey Amerika ve şimdi de Türkiye’yi kapsayan uluslararası liderlik deneyiminiz ışığında, kimya endüstrisi oyuncularının dijital dönüşüme yaklaşımında ne tür değişimler gözlemliyorsunuz? Mikroskopi ve analitik iş akışları bu noktada en büyük rekabet avantajını nerede yaratabilir?
Küresel olarak kimya şirketleri, izole analizlerden bağlantılı ve veri odaklı iş akışlarına doğru ilerliyor. Odak noktası artık verimliliği artırmak ve inovasyonu hızlandırmak için karakterizasyon, analitik ve süreç verilerini entegre etmek üzerinedir. ZEISS GeminiSEM gibi mikroskopi sistemleri; görüntüleme, elementel analiz, otomasyon ve dijital veri yönetimini birleştiren daha büyük analitik ekosistemlerin bir parçası haline geliyor. En büyük rekabet avantajı, mikroskopi verilerini uygulanabilir süreç bilgisine dönüştürmekten; yani şirketlerin atıkları azaltmasına, tekrarlanabilirliği artırmasına ve üretimi daha hızlı optimize etmesine yardımcı olmaktan kaynaklanıyor.
Master Class eğitiminde, gerçek numune yüzeyi görüntüleme için ultra düşük kV’da yüksek çözünürlüklü SEM vurgulanıyor. Kaplama ve yüzey profesyonelleri için ince filmleri, yapışma sorunlarını, kaplama kusurlarını ve yüzeye duyarlı yapıları değerlendirirken bu yeteneğe sahip olmak neden özellikle önemlidir?
Kaplama ve ince film uygulamalarında, en kritik bilgiler genellikle tam yüzeyde bulunur. ZEISS GeminiSEM 560 ile yapılan ultra düşük kV görüntüleme, aşırı alt yüzey girişimi olmaksızın yüzeye son derece duyarlı analiz yapılmasına olanak tanır. Bu; ince filmlerin, nano ölçekli çatlakların, yapışma hatalarının, kaplama kusurlarının ve yüzey kontaminasyonunun daha net değerlendirilmesini sağlar. Ayrıca hassas veya iletken olmayan numuneler üzerindeki yüklenmeyi ve ışın hasarını en aza indirerek, hazırlık sırasında iletken kaplama ihtiyacını genellikle azaltır. Sonuç olarak, kullanıcılar malzemeyi gerçek durumuna daha yakın bir şekilde gözlemleyebilir ve daha güvenilir analiz sonuçları elde edebilirler.
Kaplama sektöründe üreticiler, genellikle görsel denetimi daha derin analitik içgörülerle birleştirmeye ihtiyaç duyarlar. ZEISS, entegre mikroskopi ve analitik iş akışları aracılığıyla müşterilerin bir yüzey kusurunu sadece “görmekten”, onun “kök nedenini anlamaya” geçmelerine nasıl yardımcı oluyor?
ZEISS, kaplama kusurlarını ve hatalarını daha iyi anlamak için müşterilerin yüksek çözünürlüklü görüntülemeyi entegre analitik iş akışlarıyla birleştirmesine yardımcı olur. ZEISS GeminiSEM serisi gibi sistemlerle kullanıcılar sadece bir kusuru görselleştirmekle kalmaz, aynı zamanda EDS ve kesit analizi gibi araçları kullanarak onun bileşimini, yapısını ve kaynağını da analiz edebilirler. Bu entegre yaklaşım, üreticilerin sorunların kontaminasyondan mı, işleme koşullarından mı, malzeme arayüzlerinden mi yoksa çevresel etkilerden mi kaynaklandığını belirlemelerine olanak tanır; bu da daha hızlı sorun giderme ve iyileştirilmiş ürün güvenilirliği sağlar.
Korelatif iş akışları da sonuçları anlamak ve birleştirmek için gerçekten kullanışlıdır. Korelatif mikroskopinin amacı, aynı ilgi bölgesini farklı mikroskoplar ve modaliteler genelinde inceleyerek kullanıcıların bir numuneden daha eksiksiz ve güvenilir bilgiler elde etmesini sağlamaktır. ZEISS korelatif iş akışlarının en büyük avantajlarından biri, milimetre ölçekli genel bakış görüntülemesinden nanometre ölçekli ultrastrüktürel analize kadar uzunluk ölçekleri arasında köprü kurabilme yeteneğidir. Nihayetinde korelatif mikroskopi, analiz süresini azaltmaya, iş akışı tekrarlanabilirliğini artırmaya ve karmaşık malzeme ile yapılardan daha kapsamlı içgörüler üretmeye yardımcı olur.
